Rastertunnelmikroskop 2004.jpg Скенирајући тунелски микроскоп (СТМ) је веома моћна технологија за снимање површине и карактеризацију материјала са могућношћу постизања атомске резолуције . СТМ је заснована на квантно-механичком ефекту тунеловања електрона.
Када се зашиљен врх од проводног материјала приближи проводном или полупроводничком материјалу напон који је претходно остварен између врха и материјала омогућава пролазак електрона кроз вакуум који их раздваја. Након успостављања тока електрона струја која тече између узорка и врха (који игра улогу сонде) је функција локалне густине стања.
Tersoff, J.; Hamann, D. R. (1985). „Theory of the scanning tunneling microscope”. Physical Review B . 31 (2): 805—813. Bibcode :1985PhRvB..31..805T . PMID 9935822 . doi :10.1103/PhysRevB.31.805 . Bardeen, J. (1961). „Tunnelling from a Many-Particle Point of View” . Physical Review Letters . 6 (2): 57—59. Bibcode :1961PhRvL...6...57B . doi :10.1103/PhysRevLett.6.57 . Chen, C. Julian (1990). „Origin of atomic resolution on metal surfaces in scanning tunneling microscopy”. Physical Review Letters . 65 (4): 448—451. Bibcode :1990PhRvL..65..448C . PMID 10042923 . doi :10.1103/PhysRevLett.65.448 . Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, Ch.; Weibel, E. (1983). „7 × 7 Reconstruction on Si(111) Resolved in Real Space”. Physical Review Letters . 50 (2): 120—123. Bibcode :1983PhRvL..50..120B . doi :10.1103/PhysRevLett.50.120 . Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, Ch.; Weibel, E. (1982). „Surface Studies by Scanning Tunneling Microscopy”. Physical Review Letters . 49 (1): 57—61. Bibcode :1982PhRvL..49...57B . doi :10.1103/PhysRevLett.49.57 . Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, Ch.; Weibel, E. (1982). „Tunneling through a controllable vacuum gap”. Applied Physics Letters . 40 (2): 178—180. Bibcode :1982ApPhL..40..178B . doi :10.1063/1.92999 . Lapshin, Rostislav V. (2004). „Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology” . Nanotechnology . 15 (9): 1135—1151. Bibcode :2004Nanot..15.1135L . S2CID 250913438 . doi :10.1088/0957-4484/15/9/006 . Fujita, Daisuke; Sagisaka, Keisuke (2008). „Active nanocharacterization of nanofunctional materials by scanning tunneling microscopy” . Science and Technology of Advanced Materials . 9 (1): 013003. Bibcode :2008STAdM...9a3003F . PMC 5099790 PMID 27877921 . doi :10.1088/1468-6996/9/1/013003 .
