Microscop cu efect tunel

Schema de funcționare a unui STM

Microscopul cu efect tunel (STM, din engleză Scanning tunneling microscope) este un tip de microscop utilizat pentru a obține imagini de la nivel atomic. Gerd Binnig și Heinrich Rohrer au primit Premiul Nobel pentru Fizică în anul 1986 pentru dezvoltarea acestuia.^[1][2][3] STM determină suprafața utilizând un vârf conductor electric, care are capacitatea de a distinge caracteristici mai mici de 0,1 nm și având o rezoluție de adâncime de 0,01 nm (10 pm).^[4] Cu alte cuvinte, STM permite observarea și manipularea atomilor individuali. Majoritatea microscoapelor sunt construite pentru a fi utilizate în vid ultra-înalt, la temperaturi apropiate de 0 Kelvin, însă există și tipuri care se pot utiliza la temperaturi de peste 1000 °C.^[5][6]

Note

1. Binnig G, Rohrer H (1986). „Scanning tunneling microscopy”. IBM Journal of Research and Development. 30 (4): 355–69. doi:10.1016/0039-6028(83)90716-1. 
2. Binnig G, Rohrer H (1 iulie 1987). „Scanning tunneling microscopy---from birth to adolescence”. Reviews of Modern Physics. 59 (3): 615–625. Bibcode:1987RvMP...59..615B. doi:10.1103/RevModPhys.59.615 . 
3. „Press release for the 1986 Nobel Prize in physics”. 
4. Bai C (2000). Scanning tunneling microscopy and its applications. New York: Springer Verlag. ISBN 978-3-540-65715-6. 
5. Chen CJ (1993). Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (PDF). Oxford University Press. ISBN 978-0-19-507150-4. 
6. SPECS. „STM 150 Aarhus - High Stability Temperature Control” (PDF). specs.de. Accesat în 23 februarie 2017. 

Vezi și

• Microscop electronic de scanare
• Microscop electronic de transmisie
• Efect tunel