Artikel ini perlu dikembangkan dari artikel terkait di Wikipedia bahasa Inggris. (Agustus 2024)
klik [tampil] untuk melihat petunjuk sebelum menerjemahkan.
Lihat versi terjemahan mesin dari artikel bahasa Inggris.
Terjemahan mesin Google adalah titik awal yang berguna untuk terjemahan, tapi penerjemah harus merevisi kesalahan yang diperlukan dan meyakinkan bahwa hasil terjemahan tersebut akurat, bukan hanya salin-tempel teks hasil terjemahan mesin ke dalam Wikipedia bahasa Indonesia.
Jangan menerjemahkan teks yang berkualitas rendah atau tidak dapat diandalkan. Jika memungkinkan, pastikan kebenaran teks dengan referensi yang diberikan dalam artikel bahasa asing.
Floresensi sinar X (x-ray flourescence, XRF) adalah fluoresensi (emisi karakteristik sekunder) sinar-X dari bahan yang tereksitasi karena dibombardir dengan sinar X berenergi tinggi atau sinar gamma. Fenomena ini banyak dimanfaatkan untuk analisis unsur dan kimia analisis, terutama dalam menneliti logam, kaca, keramik dan bahan bangunan, dan dalam geokimia, ilmu forensik, arkeologi dan benda-benda seni[1] seperti lukisan[2] dan mural.
Bombardir dengan sinar-X berenergi tinggi dan sinar gamma mengeksitasi elektron-elektron dari unsur yang diselidiki. Ketika elektron-elektron ini kembali ke keadaan dasar, sinar X-ray akan dipancarkan dengan energi tertentu.[3] Besar energi ini berbeda-beda tergantung unsur, sehingga dengan mendeteksi pancaran sinar X ini, peneliti dapat mengetahui unsur dalam suatu bahan.[4]
