Near Field Scanning Optical Microscopy (NSOM/SNOM), česky optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, je mikroskopická technika pro pozorovaní v oblasti nanočástic, která překonává rozlišovací limit pomocí vlastností tlumených vln. Základem této techniky je umístění detektoru velmi blízko k povrchu vzorku, typicky mezi 1 a 0.1-násobkem vlnové délky světla.[1] Používá se v optické mikroskopii, pro její schopnost zvýšit kontrast nanočástic, může být snadno použita studiu různých vlastností látek, jako je index lomu, chemická struktura a mechanická deformace.[2]
Popis zařízení
Zařízení se skládá například z optického vlákna leptaného do špičky, které je u této špičky pokoveno. Vláknem prochází modulované elektromagnetické záření (laser), které dopadá na vzorek ve vzdálenosti menší než je jeho vlnová délka, tzv. oblast blízkého pole. V tomto poli nedochází k výraznému odchylování fotonů ze směru kolmém na vzorek, a proto je interpretace výsledků snadnější. Světlo se vzorkem interaguje a to, které se odrazí nebo rozptýlí je detekováno fotonásobiči a převedeno na elektrický signál, a pak na monitor.[3] SNOM je vlastně spojení optické mikroskopie s mikroskopií se skenující sondou (SPM). Tím dochází k lepšímu rozlišení než u klasické mikroskopie. V roce 2010 je tato technika předmětem zkoumání, zejména v oblasti výpočtu obrazu, kde se uplatňují složité zákonitosti kvantové mechaniky.[2]
Near-Field Nano-Optics: From Basic Principals to Nano-Fabrication and Nano-Photonics, Ohtsu, M. and Hori, H., Plenum Publishers, New York, 386 pages (1999).
Near-Field Optics: Principles and Applications, Zhu, X. and Ohtsu, M., (eds.) World Scientific Publishing, Singapore, 273 pages (1999).
Near-Field Nano/Atom Optics and Technology, Ohtsu, M., (ed.) Springer, Tokyo, Japan, 302 pages (1998).
Near Field Optics and Nanoscopy, Fillard, J., World Scientific Publishing, Singapore, 438 pages (1996).
